Parametry a specifikace
Napěťový rozsah | ±8 V |
Proudový rozsah | ±300 mA |
Napěťové rozlišení měření | 1 μV |
Proudové rozlišení | 1,5 pA |
Frekvence vzorkování | 1 MS/s |
Maximální frekvence generovaní vzorků | 64 MS/s |
Napěťové rozlišení generátoru | 400 μV (≥ 3 V) 150 μV (< 3 V) |
Frekvence vzorkování FRA | 40 MS/s |
Rozsah frekvenční analýzy | 10 μHz až 1 MHz |
- dvou nebo čtyřvodičová módy měření
- DC techniky v rychlé sekvenci za sebou (I-V, P-E, pulsy) se vzorkováním až do 1 MS/s
- AC techniky analýzy frekvenční odezvy (FRA) zahrnují multisinusovou FFT, harmonickou a intermodulační analýzu
- zařízení vhodné pro charakterizaci OLED (Organic Light Emitting Diode), dielektrik či polovodičů
- měření v časové oblasti a AC testy lze řadit v sekvenci za sebou s okamžitým přepínáním umožňujícím využít DC a impulsní průběh pro aktivaci nosiče náboje a jejich následnou analýzu pomocí EIS
- čtyři pomocné kanály pro integraci synchronizovaného měření optickým, mechanickým nebo jiným převodníkem
- vysoké frekvenční rozlišení pro rezonanční charakterizaci
- PC software XM-studio s připravenými šablonami a komfortním ovládáním od začátku testu přes analýzu dat až po generování reportu
- ovládání testů včetně EIS, měření admitance, permitivity či kapacity
- škála možností analýzy dat jako přeložení křivek (fitting) získaných z ekvivalentního schématu, vyhodnocení FF (Fill Factor), odhad parametrů (R, C, L, Warburg ...)
- teplotní testy plně integrované v softwaru XM-studio s podporou připojení kryostatů, pícek a držáků vzorků - dostupnost příslušenství (zesilovač, Sample Holder, Cryostat ...), kompatibilita s kontaktovacími stanicemi pro testování polovodičů
Soubory ke stažení a odkazy
Potřebujete poradit?
Zavolejte nám na +420 325 610 123 a vyžádejte si specialistu v tomto oboru.