Materials Lab XM Materials Test System

    • materiálový testovací systém
    • patří do rodiny kompaktních Apps-XM (Application specific eXtreme Measurement) zařízení založených na technologiích pokročilé Modulab XM platformy
    • přesné DC měření (I-V, pulsy) a elektrochemická impedanční spektroskopie EIS (C-V, impedance, Mott-Schottkyho analýza) s okamžitým přepínáním mezi technikami bez změny zapojení
    • záruka: 2 roky
    SOLARTRON ANALYTICAL
    Další parametry
    Cena na dotaz
    Kat. č: MaterialsLabXM.w
    Dostupnost na dotaz

    Výběru neodpovídá žádná položka.

    Parametry a specifikace

    Napěťový rozsah ±8 V
    Proudový rozsah ±300 mA
    Napěťové rozlišení měření 1 μV
    Proudové rozlišení 1,5 pA            
    Frekvence vzorkování 1 MS/s
    Maximální frekvence generovaní vzorků 64 MS/s
    Napěťové rozlišení generátoru 400 μV (≥ 3 V)
    150 μV (< 3 V)
    Frekvence vzorkování FRA 40 MS/s
    Rozsah frekvenční analýzy 10 μHz až 1 MHz
    • dvou nebo čtyřvodičová módy měření
    • DC techniky v rychlé sekvenci za sebou (I-V, P-E, pulsy) se vzorkováním až do 1 MS/s
    • AC techniky analýzy frekvenční odezvy (FRA) zahrnují multisinusovou FFT, harmonickou a intermodulační analýzu
    • zařízení vhodné pro charakterizaci OLED (Organic Light Emitting Diode), dielektrik či polovodičů
    • měření v časové oblasti a AC testy lze řadit v sekvenci za sebou s okamžitým přepínáním umožňujícím využít DC a impulsní průběh pro aktivaci nosiče náboje a jejich následnou analýzu pomocí EIS
    • čtyři pomocné kanály pro integraci synchronizovaného měření optickým, mechanickým nebo jiným převodníkem
    • vysoké frekvenční rozlišení pro rezonanční charakterizaci
    • PC software XM-studio s připravenými šablonami a komfortním ovládáním od začátku testu přes analýzu dat až po generování reportu
      - ovládání testů včetně EIS, měření admitance, permitivity či kapacity
      - škála možností analýzy dat jako přeložení křivek (fitting) získaných z ekvivalentního schématu, vyhodnocení FF (Fill Factor), odhad parametrů (R, C, L, Warburg ...)
      - teplotní testy plně integrované v softwaru XM-studio s podporou připojení kryostatů, pícek a držáků vzorků
    • dostupnost příslušenství (zesilovač, Sample Holder, Cryostat ...), kompatibilita s kontaktovacími stanicemi pro testování polovodičů

    Soubory ke stažení a odkazy

    Potřebujete poradit?

    Zavolejte nám na +420 325 610 123 a vyžádejte si specialistu v tomto oboru.