ModuLab XM MTS Materials Test System
- materiálový testovací systém
- konfigurovatelná platforma pro testování vysokých odporů a impedancí jimiž jsou dielektrika a izolační materiály, anebo naopak pro testování vysoce vodivých materiálů
- nabízí možnost jak časové analýzy (DC), tak frekvenční analýzy (AC)
- volba testu, řízení měření a zobrazení výsledků jsou spravovány intuitivním PC SW XM-studio
- zařízení ModuLab ve verzii XM MTS (Xtreme Measurement Materials Test System) je koncipováno pro výzkum materiálů, ale lze ho rozšířit také pro elektrochemické nebo fotoelektrochemické experimenty
- záruka: 2 roky
Parametry a specifikace
| max. velikost měřené impedance | >100 TΩ (MAT + MHV100 + MFA + MREF) |
| min. velikost měřené impedance | 10 μΩ (MAT +MBST 2 A + MREF) |
| max. napěťový rozsah |
±8 V (MAT) |
| max. rozlišení napěťového výstupu |
400 μV (≥ 3 V, MAT) |
| max. proudový rozsah |
± 100 mA (MAT) |
| max. proudové rozlišení |
1,5 pA (MAT) |
| frekvence vzorkování |
1 MS/s (MAT) |
| maximální frekvence generování vzorků | 64 MS/s (MAT) |
| rozsah frekvenční analýzy | 10 μHz až 1MHz (MFRA) |
- dvou nebo čtyřvodičové módy měření
- zařízení ve spolupráci s PC softwarem umožňuje vytváření automatických sekvencí DC a AC technik:
- I-V měření pro charakterizaci elektronických a dielektrických materiálů
- P-E měření (polarizace / elektrické pole) pro charakterizaci feroelektrických materiálů
- vysoko-rychlostní impulzní měření pro elektronické a dielektrické materiály
- schůdkové a hladké (jakoby analogové) rampové testy
- vyhodnocení impedance, admitance, permitivity / kapacity elektrického modulu
- C-V měření (kapacita vs. DC napětí), Mott-Schottkyho analýza
- řídící moduly:
- XM MAT 1MHz – pro analýzu v časové oblasti
- XM MFRA 1MHz – pro AC měření
- Slave moduly pro modifikaci parametrů signálů:
- XM MHV100 – vysokonapěťová volba (100 V)
- XM MFA – volba pro nízké proudy
- XM MREF - modul pro zvýšení přesnosti AC analýzy
- XM MBST 2A – volba vysokého proudu (2 A)
- možnost konfigurace víckanálového systému také v kombinaci s elektrochemickou sestavou, přičemž současná měření na kanálech mohou být ovládaná každá samostatně
- moduly jsou typu „plug and play“
- SW XM-studio nabízí škálu možností analýzy dat jako přeložení křivek (fitting) získaných z ekvivalentního schématu, vyhodnocení FF (Fill Factor)
- multisinusová FFT analýza urychluje test prováděný přes celé frekvenční pásmo
- harmonická intermodulační analýza
- dostupnost příslušenství (Sample Holder, Cryostat...)
Soubory ke stažení a odkazy
Potřebujete poradit?
Zavolejte nám na +420 325 610 123 a vyžádejte si specialistu v tomto oboru.