ModuLab XM MTS Materials Test System

    • materiálový testovací systém
    • konfigurovatelná platforma pro testování vysokých odporů a impedancí jimiž jsou dielektrika a izolační materiály, anebo naopak pro testování vysoce vodivých materiálů
    • nabízí možnost jak časové analýzy (DC), tak frekvenční analýzy (AC)
    • volba testu, řízení měření a zobrazení výsledků jsou spravovány intuitivním PC SW XM-studio
    • zařízení ModuLab ve verzii XM MTS (Xtreme Measurement Materials Test System) je koncipováno pro výzkum materiálů, ale lze ho rozšířit také pro elektrochemické nebo fotoelektrochemické experimenty
    • záruka: 2 roky
    SOLARTRON ANALYTICAL
    Další parametry
    Cena na dotaz
    Kat. č: ModuLabXMMTS.w
    dostupnost na dotaz

    Výběru neodpovídá žádná položka.

    Parametry a specifikace

    Max. velikost měřené impedance  >100 TΩ (MAT + MHV100 + MFA + MREF)
    Min. velikost měřené impedance  10 μΩ (MAT +MBST 2 A + MREF)
    Max. napěťový rozsah 

    ±8 V (MAT)
    ±100 V (MHV100)

    Max. rozlišení napěťového výstupu

    400 μV (≥ 3 V, MAT)
    150 μV (< 3 V, MAT)

    Max. proudový rozsah    

    ± 100 mA (MAT)
    ± 2 A (MBST 2 A)

    Max. proudové rozlišení 

    1,5 pA (MAT)
    0,15 fA (MFA)

    Frekvence vzorkování

    1 MS/s (MAT)
    40 MS/s (MFRA)

    Maximální frekvence generování vzorků  64 MS/s (MAT)
    Rozsah frekvenční analýzy    10 μHz až 1MHz (MFRA)
    • dvou nebo čtyřvodičové módy měření
    • zařízení ve spolupráci s PC softwarem umožňuje vytváření automatických sekvencí DC a AC technik:
      • I-V měření pro charakterizaci elektronických a dielektrických materiálů
      • P-E měření (polarizace / elektrické pole) pro charakterizaci feroelektrických materiálů
      • vysoko-rychlostní impulzní měření pro elektronické a dielektrické materiály
      • schůdkové a hladké (jakoby analogové) rampové testy
      • vyhodnocení impedance, admitance, permitivity / kapacity elektrického modulu
      • C-V měření (kapacita vs. DC napětí), Mott-Schottkyho analýza
    • řídící moduly:
      • XM MAT 1MHz – pro analýzu v časové oblasti
      • XM MFRA 1MHz – pro AC měření
    • Slave moduly pro modifikaci parametrů signálů:
      • XM MHV100 – vysokonapěťová volba (100 V)
      • XM MFA – volba pro nízké proudy
      • XM MREF  - modul pro zvýšení přesnosti AC analýzy
      • XM MBST 2A – volba vysokého proudu (2 A)
    • možnost konfigurace víckanálového systému také v kombinaci s elektrochemickou sestavou, přičemž současná měření na kanálech mohou být ovládaná každá samostatně
    • moduly jsou typu „plug and play“
    • SW XM-studio nabízí škálu možností analýzy dat jako přeložení křivek (fitting) získaných z ekvivalentního schématu, vyhodnocení FF (Fill Factor)
    • multisinusová FFT analýza urychluje test prováděný přes celé frekvenční pásmo
    • harmonická intermodulační analýza
    • dostupnost příslušenství (Sample Holder, Cryostat...)

    Soubory ke stažení a odkazy

    Potřebujete poradit?

    Zavolejte nám na +420 325 610 123 a vyžádejte si specialistu v tomto oboru.