NSG 5071 Inductive Switch Transient Test Circuit

NSG 5071 je navržen přesně podle normy EMC-CS-2009.1 pro testovací impulsy CI 220 A1, A2-1, A2-2, C1, C2 a RI 130 pomocí indukčního/reléového zkušebního obvodu generátoru přechodových jevů. V tomto zkušebním obvodu, který využívá stejný typ relé, je NSG 5071 vybaven také vlnovým průběhem CI 260 F. Tento zkušební obvod je definován v příloze F pro impulsy A, C a RI 130 a na obrázku 19-10 pro CI 260 Waveform F.

Základní filozofií tohoto zkušebního obvodu je lepší reprodukovatelnost skutečných spínacích přechodových dějů. Reprodukovatelnost tohoto zkušebního obvodu nevychází z výstupních charakteristik jako při tradičním provádění zkoušek odolnosti v automobilovém průmyslu, ale z pevné konstrukce generátoru s použitím několika předem definovaných součástí. Mnohé z těchto součástek jsou v normě definovány jako kritické bez možnosti záměny. Tyto součástky se používají podle požadavků normy.

Zkušební obvod je založen především na Potterově a Brumfieldově relé a dvou indukčních cívkách od firmy Osborne Transformer. Relé se používá třemi způsoby: k vypínání napětí na induktorech, čímž způsobuje velké přechodové jevy indukčního zpětného rázu, k samočinnému rozrušení a v případě tvaru vlny F k náhodné zkoušce výpadku.

NSG 5071 je vhodný pro použití požadované součástky v různých konfiguracích podle normy, aby se zajistil jediný výstup do EUT a použití bylo co nejsnažší.