SolarLab XM Photoelectrochemical Test System

    • SolarLab XM v sobě zahrnuje potenciostat, analyzátor frekvenční odezvy (FRA) a fotoelektrochemický modul
    • primárně je určen pro výzkum solárních článků a fotovoltaiky (Perovskite Solar Cell, Dye Sensitized Solar Cell)
    • přístroj lze využít také pro vývoj fotoelektrochemických systémů v oblasti viditelného spektra (jako fotoštěpení vody oxidem železitým)
    • patří do rodiny kompaktních Apps-XM (Application specific eXtreme Measurement) zařízení založených na technologiích pokročilé Modulab XM platformy
    • záruka: 2 roky
    Solartron Analytical
    Další parametry
    Cena na dotaz
    Kat. č: SolarLab XM.w
    dostupnost na dotaz

    Výběru neodpovídá žádná položka.

    Parametry a specifikace

    OPTIKA:
    Rozsah vlnových délek 350 nm - 1100 nm
    Rozsah intenzity 6 dekád (s ND filtrem)
    Max. rozbíhavost paprsku
    Max. průměr paprsku (velikost buňky) 1 cm
    Max. proud buzení LED 10 A
    Max. frekvence buzení LED (IMPS a IMVS) 250 kHz
    Potenciostat (PSTAT 1 MS/s):
    Napěťový rozsah (compliance / polarization) ±8 V
    Napěťové rozlišení (RE) 1 μV
    Proudový rozsah ±300 mA
    Proudové rozlišení (WE) 1,5 pA                         
    Analyzátor frekvenční odezvy (FRA 1 MHz):
    Max. frekvence vzorkování  40 MS/s
    Rozsah frekvenční analýzy              10 μHz až 1 MHz
    • základem sestavy je PhotoEchem karta spolupracující s optickou sestavou Optical Bench zahrnující světelný LED zdroj, filtry, čočky, 50:50 rozdělovač paprsku, fotodetektor, držák vzorku
    • rychlý Si fotodetektor se sedmi stupni zesílení a měření v rozmezí 6 dekád světelné intenzity
    • řada technik měření ve frekvenční a časové doméně (IMPS, IMVS, Impedance, PhotoVoltage Decay, Charge Extraction, I-V)
    • automatická analýza pro výpočet efektivních difúzních koeficientů a životnosti elektronů
    • k dispozici je zároveň plná sada elektrochemických technik (cyklická voltampérometrie, chrono metody, galvano metody měření impedance a AC voltampérometrie)
    • vynikající parametry analýzy frekvenční odezvy (FRA) včetně harmonické analýzy a multisinusové techniky
    • dvou, tří nebo čtyř-vodičové zapojení potenciostatu, přičemž čtyři pomocné kanály umožňují 12-vodičové měření DC/impedance (anodová/katodová charakterizace atd.)
    • PC SW XM-studio s připravenými šablonami a komfortním ovládáním od začátku testu přes analýzu dat až po generování reportu
    • výborný tepelný management světelných zdrojů zabezpečující jejich dlouhodobou stabilitu
    • dostupná široká nabídka vysocesvítivých monochromatických LED
    • volba IPCE (Incident Photon to Current Efficiency)
    • dostupné další příslušenství (Power Booster, Corrosion Cell, Flat Cell, Rotator)

    Soubory ke stažení a odkazy

    Potřebujete poradit?

    Zavolejte nám na +420 325 610 123 a vyžádejte si specialistu v tomto oboru.