VersaSCAN Scanning Electrochemical Systems

    • platforma pro prostorově rozlišená měření v oblasti elektrochemie a materiálového výzkumu
    • umožňuje lokalizovat elektrochemické jevy
    • vysoké rozlišení a opakovatelnost polohování díky piezoelektrickým motorům
    • jednotná platforma pro 7 různých technik; volba techniky podle zvoleného modelu/konfigurace zařízení
    • záruka: 2 roky
    Ametek Scientific Instruments
    Další parametry
    Cena na dotaz
    Kat. č: VersaSCAN.w
    dostupnost na dotaz

    Výběru neodpovídá žádná položka.

    Parametry a specifikace

    • rozsah polohovacího systému VersaSCAN Base (VS-BASE):X: 100 mm
      Y: 100 mm
      Z: 100 mm
    • naměřená mapa může zobrazovat rozložení proudu, impedance, relativní pracovní funkce nebo topografii
    • k dispozici jsou následující systémy:VS-SECM (Scanning ElectroChemical Microscope) – skenovací elektrochemický mikroskop (DC a AC), využívající bipotenciostatické měření na hrotu a vzorku
      • VS-STYLUS – skenovací elektrochemický mikroskop s konstantní vzdáleností založený na unikátní konstrukci sondy STYLUS
      • VS-LEIS (Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy) – lokalizovaná elektrochemická impedanční spektroskopie pro všechny aplikace využívající EIS měření; kombinuje široké frekvenční pásmo a vysokou přesnost, např. pro lokální měření SoC (State of Charge) nebo analýzu povrchových defektů
      • VS-SVET (Scanning Vibrating Electrode Technique) – skenování vibrující elektrodou umožňující získat mapu rozložení napětí, např. pro identifikaci korozních oblastí
      • VS-SKP (Scanning Kelvin Probe) – skenovací Kelvinova sonda, tedy mikroskop mapující anodický/katodický charakter vzorku nedestruktivním měřením relativní pracovní funkce, při kterém jsou vzorek a sonda odděleny vzduchovou mezerou
      • VS-SDC (Scanning Droplet Cell) – skenovací cela s kapkovou elektrodou umožňující elektrochemická měření na řízené kapce pohybující se po povrchu vzorku, čímž eliminuje vliv reakčních produktů na měření
      • VS-OSP (Non-contact Optical Surface Profiler) – bezkontaktní optický systém mapování povrchu založený na laserové technologii, vhodný pro kombinaci s dalšími technikami
    • VersaSCAN integruje vlastnosti použitých měřicích přístrojů (potenciostaty VersaSTAT)
    • k dispozici je příslušenství, jako jsou testovací elektrochemické cely a zobrazovací systém

    Soubory ke stažení a odkazy

    Potřebujete poradit?

    Zavolejte nám na +420 325 610 123 a vyžádejte si specialistu v tomto oboru.