Parametry a specifikace
- rozsah polohovacího systému VersaSCAN Base (VS-BASE):X: 100 mm
Y: 100 mm
Z: 100 mm - naměřená mapa může zobrazovat rozložení proudu, impedance, relativní pracovní funkce nebo topografii
- k dispozici jsou následující systémy:VS-SECM (Scanning ElectroChemical Microscope) – skenovací elektrochemický mikroskop (DC a AC), využívající bipotenciostatické měření na hrotu a vzorku
- VS-STYLUS – skenovací elektrochemický mikroskop s konstantní vzdáleností založený na unikátní konstrukci sondy STYLUS
- VS-LEIS (Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy) – lokalizovaná elektrochemická impedanční spektroskopie pro všechny aplikace využívající EIS měření; kombinuje široké frekvenční pásmo a vysokou přesnost, např. pro lokální měření SoC (State of Charge) nebo analýzu povrchových defektů
- VS-SVET (Scanning Vibrating Electrode Technique) – skenování vibrující elektrodou umožňující získat mapu rozložení napětí, např. pro identifikaci korozních oblastí
- VS-SKP (Scanning Kelvin Probe) – skenovací Kelvinova sonda, tedy mikroskop mapující anodický/katodický charakter vzorku nedestruktivním měřením relativní pracovní funkce, při kterém jsou vzorek a sonda odděleny vzduchovou mezerou
- VS-SDC (Scanning Droplet Cell) – skenovací cela s kapkovou elektrodou umožňující elektrochemická měření na řízené kapce pohybující se po povrchu vzorku, čímž eliminuje vliv reakčních produktů na měření
- VS-OSP (Non-contact Optical Surface Profiler) – bezkontaktní optický systém mapování povrchu založený na laserové technologii, vhodný pro kombinaci s dalšími technikami
- VersaSCAN integruje vlastnosti použitých měřicích přístrojů (potenciostaty VersaSTAT)
- k dispozici je příslušenství, jako jsou testovací elektrochemické cely a zobrazovací systém
Soubory ke stažení a odkazy
Potřebujete poradit?
Zavolejte nám na +420 325 610 123 a vyžádejte si specialistu v tomto oboru.

